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球差場發射透射電子顯微鏡 HF500
200 kV相差校正TEM/STEM，平衡了空間分辨率和傾斜、分析性能 通過單極片實現0.078 nm的STEM空間分辨率和高...
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納米尺度3D光學干涉測量系統VS1800應用光干涉現象，對微細的表面形貌進行測量，可實現高性能薄膜、半導體、汽車零配件、顯示器等...
XPR 分析天平
