- 實(shí)驗(yàn)室分析儀器
已選條件：
清除
- 計(jì)量測(cè)量?jī)x
- 物理性能測(cè)試
- 實(shí)驗(yàn)室分析儀器
- 無損檢測(cè)
- 工量具機(jī)床附件
- 量具
- 電學(xué)熱工儀表
- 非標(biāo)自動(dòng)化
分類：
- 光譜儀
- 橢偏儀
- 掃描電鏡
- 元素分析儀
- 實(shí)驗(yàn)室天平
- 金相設(shè)備
- 顯微鏡
- 光源/顏色測(cè)量?jī)x
- 材料分析
二級(jí)分類：
Smart SE- 功能強(qiáng)大，高性價(jià)
Smart SE 是一款通用型薄膜測(cè)量工具。測(cè)試速度快，準(zhǔn)確。它可以表征幾埃到20μm薄膜厚度、光學(xué)常數(shù)（n, k）以及薄膜結(jié)...
UVISEL 2 VUV真空紫外橢偏
UVISEL 2 VUV專為VUV 測(cè)量設(shè)計(jì)，整個(gè)系統(tǒng)處于真空狀態(tài)，無氧氣吸收。具備高準(zhǔn)確性；超快測(cè)量速度；快速樣品室抽真空能力...
激光粒度分析儀 Partica LA
LA-960V2 秉承 HORIBA 一貫的優(yōu)異設(shè)計(jì)引領(lǐng)行業(yè)方向。其直觀的軟件、特有的附件和優(yōu)異的性能將科學(xué)認(rèn)知推向未知世界，是...
激光粒度分析儀 Partica mi
HORIBA LA-350 激光粒度分析儀是一款性能高、價(jià)格低、體積小巧的粒徑分析儀器。LA-350廣泛應(yīng)用于漿料、礦物和造紙...
納米粒度及Zeta電位分析儀 nan
先進(jìn)的分析儀器助您解開納米世界的奧秘。只需單臺(tái)設(shè)備就能表征納米顆粒的三個(gè)參數(shù)：粒徑、Zeta 電位和分子量。
